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球差校正透射电子显微镜云视频/现场
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简介
可达到亚埃级,常用于纳米材料精准表征,获取微观原子排布,微区结构和元素分布信息。可得到高分辨率像(HRTEM),单原子图像,haddf(高角环形暗场),eels(电子能量损失谱), mapping等。
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矿物定量分析系统(MLA)
服务周期
1-3工作日
简介
矿物定量分析系统MLA是一种主要用于矿业、冶金、地质等领域的仪器。能对矿物、材料样品进行物质组成、成分定量,矿物的嵌布特征、矿物粒度分布、矿物解离度等重要参数进行定量分析。
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聚焦离子束扫描电镜(FIB制样/FIB+SEM/FIB+TEM/FIB+球差)
服务周期
1-3工作日
简介
FIB是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器。通常使用液相金属离子源(如镓)产生离子束,离子束经过加速和聚焦后照射到样品表面,与样品相互作用,产生二次电子信号,从而获得电子图像
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球差校正透射电子显微镜
服务周期
1-3工作日
简介
可达到亚埃级,常用于纳米材料精准表征,获取微观原子排布,微区结构和元素分布信息。可得到高分辨率像(HRTEM),单原子图像,haddf(高角环形暗场),eels(电子能量损失谱), mapping等。
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