科研基地-实验服务_检测机构

飞秒瞬态吸收光谱仪（fs-TAS）
服务周期
1-3工作日
简介
瞬态吸收光谱（TAS）是一种常见的超快激光泵浦-探测技术，是研究发光或者非辐射复合等过程中激发态的弛豫过程的有力工具。
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飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）
服务周期
1-3工作日
简介
TOF-SIMS是一种表面分析技术，用于获取电池、金属、矿物等材料表面的化学组成和形貌信息，主要包括质谱测试、面扫、深度剖析以及对应的数据分析。（1）质谱测试+数据分析：通过对样品表面进行点扫，然后对质谱图进行峰拟合、归一化等数据处理对样品表面的元素和分子种类进行定量分析。（2）面扫+数据分析：在样品表面进行二维或三维扫描，获取样品表面的化学组成分布
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辉光放电光谱/质谱（GD-OES/MS）
服务周期
1-3工作日
简介
辉光放电光谱 1.测量时显示时间-强度曲线，是客观的，客观体现随溅射时间的增加元素强度的变化； 2.测量后根据校准曲线拟合转换成深度-百分含量曲线； 3.本数据用ORIGIN直接导入即可，出现很多纵坐标，Y轴即为对应元素，选择需要的元素作图即可（数据中可能出现“Fi”的数据列为仪器参数请忽略）辉光放电质谱：可得到元素半定量数据。
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三维原子探针（APT）
服务周期
1-3工作日
简介
以三维视角在亚纳米尺度揭示材料内部所有元素的分布。针对材料研发中令人棘手的测量和分析方面难题，三维原子探针为研究者提供原子量级分辨率的材料内部结构的三维成分图像，分析灵敏度接近百万分之一，特别适合于研究纳米尺度的微小结构(沉淀、团簇、GP区等)以及各种内界面(晶界、相界、多层膜结构中的层间界面等)，使用该设备可观测和研究元素在界面的偏聚行为，微小沉淀相的尺寸、分布以及成分。
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动态二次离子质谱仪（D-SIMS）
服务周期
1-3工作日
简介
动态二次离子质谱（D-SIMS）是利用高能量、高密度离子束对材料进行层层剥离，同时检测在不同深度下的二次离子信息，从而动态地剖析材料的元素在三维空间的分布情况。主要用于无机样品的深度剖析、痕量杂质鉴定等，在研究半导体元素掺杂、矿物地质研究、同位素分析等领域广泛使用。
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