99%
ZEISS Crossbeam 540；Helios G4 PFIB HXe；Helios 600i
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1-3个工作日
FIB是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器。通常使用液相金属离子源（如镓）产生离子束，离子束经过加速和聚焦后照射到样品表面，与样品相互作用，产生二次电子信号，从而获得电子图像
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