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ION-TOF TOF.SIMS5 ，PHI NanoTOFII等
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1-3个工作日
TOF-SIMS是一种表面分析技术，用于获取电池、金属、矿物等材料表面的化学组成和形貌信息，主要包括质谱测试、面扫、深度剖析以及对应的数据分析。
（1）质谱测试+数据分析：通过对样品表面进行点扫，然后对质谱图进行峰拟合、归一化等数据处理对样品表面的元素和分子种类进行定量分析。
（2）面扫+数据分析 ：在样品表面进行二维或三维扫描，获取样品表面的化学组成分布
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石明浩
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