一、X射线衍射仪

1、X射线衍射仪技术（XRD）
X射线衍射仪技术(X-ray diffraction，XRD)。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。当某物质(晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象,物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。 
2. X射线衍射仪技术（XRD）可为客户解决的问题
（1）当材料由多种结晶成分组成，需区分各成分所占比例，可使用XRD物相鉴定功能，分析各结晶相的比例。
（2）很多材料的性能由结晶程度决定，可使用XRD结晶度分析，确定材料的结晶程度。
（3）新材料开发需要充分了解材料的晶格参数，使用XRD可快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标。
（4）产品在使用过程中出现断裂、变形等失效现象，可能涉及微观应力方面影响，使用XRD可以快捷测定微观应力。
（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。
3. X射线衍射仪技术（XRD）注意事项

样品要求：
1、粉末样品：请准备至少20mg，0.1g以上最好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感，送样前请务必研磨好；如果因样品量少或粒度不符合要求导致的结果不好，无法提供免费复测；
2、块状样品要求：长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，若为立方体则平面长宽≤20mm，且厚度范围50um-15mm；需要注明测试面，测试面需要平整光洁。
3、液体样品：样品浓度越高越好，只有液体中有晶体存在才可能出峰，液体样品测试难度大且不确定性大，若样品能够被干燥，建议干燥成粉末状态后，选择粉末状态进行测试；若选择液体状态，默认液体直接上机测试。不接受腐蚀性液体。
4、若样品易吸水，请务必留言备注是否需要抽真空。
5、其他特殊需要或者有其他疑问请联系技术客服。

二、单晶XRD

项目介绍：

单晶XRD是一种X射线衍射法，通过对单晶收集数据，解出晶体结构，得到键长，键角一系列数据。
结果展示：图

一般格式及数据处理如下说明（仅供参考，具体以实际测试为准，不同仪器会有差异）：
1、只扫晶胞

2、只测试，不解析 
提供  ABS，HKL, P4P, SFRM后缀的文件
3、测试+解析
测试结果会提供原始数据（包括.abs, .hkl, .p4p格式的文件），解析后的数据（包括.ins, .res, .lst, .fcf等格式的文件）。还会帮您check，精修A, B, C类错误，生成checkcif文件。但是，A，B和C类错误与晶体质量本身也是有关的，并不能完全通过软件精修掉。Cif格式文件可以用Diamond软件打开。
样品要求：
1. 晶体质量好，可测无机晶体，有机晶体以及MOF
2. 有机和MOF类单晶，在送样时，应放在母液中，一起寄出
3. 若要解析结构，应提供分子式以及结构式

收费说明：测试不出来不收费；如果我们测出来不是你想要的产物，是要正常收费的，针对这点，如果不清楚的，可以先扫一个晶胞参数看下。后期不收数据了，我们会收取一个晶胞的费用。

三、掠入射XRD（GIXRD）

项目简介：掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让×射线略过样品表面的技术，这种技术能够更真实全面地表征出薄膜（特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，因此掠入射测试XRD的谱图绝对峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底，因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求，但是需要测试面平整光洁，不要有遮挡物，这样测试结果才真实可信。

结果展示：图

样品要求：
1，请确保测试的样品表面光滑平整，测试区域边缘处不要有遮挡，掠入射是平行光源，一旦有遮挡便会测到基底的信号，很容易遮盖需要测试物质的信号；
2，块体：长≤18mm，宽≤18mm，厚度≤2mm，不同的测试仪器要求的尺寸会有所不同，如有其他尺寸，可联系项目经理沟通确认。
3，样品寄送时请用软材料包装好避免快递运输过程中损坏。

四、XRD织构（极图）

项目简介：极图，反极图，ODF
结果展示：提供数据格式：图片+原始数据（txt 或 xrdml）
极图：图片

反极图：图片

ODF：图片

样品要求：
长和宽不要小于5mm，最好大些，不超过30mm，厚度不要超过8mm，样品标明变形方向，如轧向，挤压方向，测试表面抛光就可以

五、XRD-Rocking(摇摆曲线）

项目简介：

高分辨XRD（HRXRD），适用于单晶薄膜样品
结果展示：图

样品要求：厚度小于3mm ，长宽1x1mm2以上，不同尺寸价格不同，长宽4x4mm2以上不需要加价